利用高分辨电子显微像分析晶体势场与原子列厚度的研究

项目名称： 利用高分辨电子显微像分析晶体势场与原子列厚度的研究

项目编号： No.61172011

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 林芳

作者单位： 华南农业大学

项目金额： 60万元

中文摘要： 原子尺度的三维结构从本质上决定纳米材料的众多宏观物性，透射式电子显微镜已能轻易得到原子量级分辨率的样品投影结构的二维信息，因此，如何获取电子束入射方向的第三个维度的信息，近期已成为电子显微学理论与实验研究的重要发展方向之一。然而，目前理论研究正处于初期阶段，解决方法较少、且有待改进，离普遍的实验应用仍有一段距离。本课题将发掘隐含在图像内的电子束入射方向的结构信息，以系列离焦高分辨像可以重构样品波函数的成熟技术作为工作基础，研究多层法模拟样品出射波函数的逆运算过程：由复数形式的波函数出发，研究恢复晶体内单层投影势场的理论与算法，再利用单层投影势的物理特点求解样品上各原子列的厚度信息；将定量波函数运用于实验，可以得到纳米样品原子量级的厚度分布，并能从实验上获得重要的晶体参数，如原子散射因子、热振动因子等。本课题研究成果为实验高分辨像提供崭新的分析方法，在纳米结构确定、特性表征方面具有重大意义。

中文关键词： 透射电镜；原子尺度；定量分析；投影势；出射波

英文摘要：

英文关键词： transmission electron microscope；atomic scale；quantitative analysis；projected potential；exit wave